[拼音]：dianzi chanpin kekaoxing shiyan

[外文]：reliability test for electronic product

为评价分析电子产品的可靠 而进行的试验，广义说，包括各种环境条件下的模拟试验和现场试验。按试验项目可分为环境试验、寿命试验和特殊试验；按试验目的可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；按试验 质可分为破坏 试验和非破坏 试验。

通过可靠 试验，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠 特征量，为使用、生产和设计提供有用的数据；也可以 产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施，可使产品存在的问题逐步解决，提高产品可靠 。

评价和分析产品寿命特征的试验称为寿命试验。对于大部分电子产品，寿命是最主要的一个可靠 特征量。因此，可靠 试验往往指的就是寿命试验。寿命试验可分为非工作状态的存储寿命试验和工作状态的工作寿命试验两类。为了缩短试验周期、减少样品数量和试验费用，常常采用加速寿命试验。在不改变产品的失效机理和增添新的失效因子的前提下，提高试验应力（相对于工作状态的实际应力或产品的额定承受应力），以加速产品的失效过程。根据试验中应力施加方式的不同，又可分为：

（1）在试验过程中应力保持不变的恒定应力加速寿命试验；

（2）试验过程中应力逐级步进式增加的步进应力加速寿命试验；

（3）试验过程中应力连续增加的序进应力加速寿命试验。

在电子产品加速寿命试验中，最常用的应力为温度和电压。以温度为应力的加速寿命试验，其基本理论模型是化学反应动力学的阿列尼乌斯方程

式中dM/dt为某种物理、化学反应过程的速率；α为比例常数；k为玻尔兹曼常数；E为激活能；T为 温度；t为时间。上式可变换为

即寿命t的对数与 温度的倒数成线 关系。

以电压为应力的加速寿命试验，其基本理论模型为逆幂律

式中k为比例常数，V 为所施加的电压。

上式可变换为

ln t＝A＋B ln V

即寿命t的对数与电压的对数成线 关系。

由于寿命试验费时较多，通常不待受试样品全部失效就要结束，即大部分寿命试验都是截尾试验。根据试验截尾方式(固定试验时间或固定试验中失效样品数)和受试样品失效后有无替换，寿命试验可分为四种：

（1）无替换定时截尾试验；

（2）有替换定时截尾试验；

（3）无替换定数截尾试验；

（4）有替换定数截尾试验。在电子产品寿命试验中，最常用的寿命分布为指数分布、威布尔分布和对数正态分布。最常用的寿命试验数据统计分析方法有概率纸图解法、很大似然估计法、佳线 无偏估计法、佳线 不变估计法等。

所谓筛选，就是设法除去在材料、元件、器件、设备、系统等方面潜在的不良因素和缺陷，而把优良的产品挑选出来。采用外加应力或其他手段将成品中潜在的早期失效产品剔除的试验称为可靠 筛选。外加应力可以是热应力、电应力、机械应力或者几种应力的组合，筛选应力大小和作用时间的选取原则是：

（1）针对产品的主要失效机理；

（2）所用的应力对于良好的产品应无破坏作用，而对于有缺陷的产品应能使缺陷很快 ；

（3）根据用途、成本、产品批量大小和试验设备等条件统一考虑，力求佳的经济效果；

（4）充分调查，收集数据，掌握产品的失效分布和失效机理，才能确定合理的筛选项目。最常见的筛选方法有：

（1）目检（显微镜镜检、X射线照相、红外扫描等）；

（2）电 能测试；

（3）密封检漏；

（4）环境应力筛选（恒定加速、机械振动、冲击、温度循环、热冲击等）；

（5）寿命筛选（高温储存、功率老化、高温反偏等）。

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